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| >>國標(biāo)對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行交變鹽霧試驗(yàn)時(shí)的有關(guān)說明 |
| 國標(biāo)對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行交變鹽霧試驗(yàn)時(shí)的有關(guān)說明 |
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| 時(shí)間：2015/3/13 9:19:12 |
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國標(biāo)GB/T2423.18-2000適用于確定元器件和設(shè)備在含鹽的潮濕環(huán)境下使用或貯存的適應(yīng)性。本標(biāo)準(zhǔn)可以用作腐蝕試驗(yàn)，也可以檢驗(yàn)非金屬材料受鹽霧影響而造成的劣化，還可用于考核元器件和設(shè)備在鹽霧環(huán)境下的性能變化。
鹽分對(duì)金屬材料的腐蝕是屬于電化學(xué)性的，而對(duì)非金屬材料的損壞卻是由鹽分與該材料之間復(fù)雜的化學(xué)反應(yīng)所引起的。腐蝕損壞速率在很大程度上取決于試驗(yàn)樣品表面的含氧鹽溶液和試驗(yàn)樣品的溫度以及環(huán)境的溫度和濕度。
在試驗(yàn)期間，噴霧時(shí)間足以使試驗(yàn)樣品充分潤濕，而且噴霧還要在試驗(yàn)樣品濕熱條件下貯存一段時(shí)間后重復(fù)進(jìn)行。因此這種鹽霧試驗(yàn)方法在某種程度上是模擬天然鹽霧環(huán)境的。
本試驗(yàn)與多數(shù)使用條件相比，是加速的。但是它不可能對(duì)各種不同類型的樣品具有相同的加速系數(shù)。
本鹽霧試驗(yàn)由鹽霧和濕熱貯存二種條件組成。試驗(yàn)樣品在噴霧過程中不通電；在濕熱貯存期間，通常也不通電。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-52（1984）《試驗(yàn)Kb：交變鹽霧試驗(yàn)方法》。
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